关闭EF_ENV_USING_CACHE功能，测试正常。
开启EF_ENV_USING_CACHE功能，cache设置如下：
#define EF_ENV_CACHE_TABLE_SIZE 16
#define EF_SECTOR_CACHE_TABLE_SIZE 4
测试代码：
uint32_t v=24;
uint32_t test,vlen;
for(i=0;i<100;i++)
{
ef_set_env_blob("bj_volt0",(void )&v,4);
ef_get_env_blob("bj_volt0",(void)&test,4,&vlen);
if(test!=24)
break;
}
程序会随机（循环次数i）进入break语句；
主控stm32f429,SPI接口flash是w25q128,flash底层驱动读写擦测试正常。